平行板電容器,作為電學(xué)領(lǐng)域中的基礎(chǔ)且重要的概念,通常指的是平行板電容器的電容特性,這種電容器由兩塊相互平行的金屬導(dǎo)體極板構(gòu)成,其中的空間被電介質(zhì)材料隔開,形成了能夠儲存電荷和電能的結(jié)構(gòu)。
在高校科研與教學(xué)活動中,針對平行板電容器的電容-電壓(CV)特性測試是一項重要的實驗內(nèi)容。研究人員可以通過高精度測量設(shè)備,系統(tǒng)地研究平行板電容器在不同偏置電壓條件下的電容值變化,以及這些變化如何反映電介質(zhì)材料的物理特性。
一家以電子材料研究著稱的高校,需要在教學(xué)中進行平行板電容器C-V特性測試。
測試平行板電容器的C-V特性,但由于平板電容體積較小,需要利用探針臺作為穩(wěn)固的支撐平臺進行測試。
為滿足客戶的測試需求,推薦使用同惠 TH2839系列精密阻抗分析儀。
TH2839系列精密阻抗分析儀采用阻抗測量范圍較寬的自動平衡電橋技術(shù),確保了高達0.05%的基本精確度,并覆蓋了從20Hz至10MHz的廣泛頻率區(qū)間,這一特性契合了元件與材料測量的多元化需求。
測試產(chǎn)品的尺寸很小,那么在選擇探針時需要注意哪些因素,以確保探針能夠準確接觸到測試點?
為了解決以上問題,通過調(diào)整探針臺測試端+定做測試夾具等方式,成功完成測試。
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